電子產(chǎn)品的可靠性試驗方法有多種，下面介紹幾種常用的方法。

　　第一種方法是“試驗——問題記錄——再試驗”模式。

　　該方法就是把初步研制的產(chǎn)品，通過試驗發(fā)現(xiàn)問題時，不是立即進(jìn)行改進(jìn)，而是把問題記錄下來，待在一個試驗階段結(jié)束以及下一個階段開始之前，根據(jù)各種失效模式的失效機(jī)理，集中地進(jìn)行改進(jìn)，然后再進(jìn)行試驗。采用這種試驗法，產(chǎn)品可靠性將有較大的躍進(jìn)。這種試驗法，比較適用于一批試驗機(jī)中，出現(xiàn)幾個問題，其中一種問題是占主要地位而其余問題是次要的情況。

　　第二種方法是“試驗——改進(jìn)——再試驗”模式。

　　該方法就是把初步研制的產(chǎn)品，通過試驗，暴露產(chǎn)品的薄弱環(huán)節(jié)，分析產(chǎn)品的失效模式和失效機(jī)理，找出問題就立即改進(jìn)，然后再試驗證實所解決的問題，使產(chǎn)品的可靠性得到增長。這種方法在電子產(chǎn)品的研制階段，通過系統(tǒng)試驗，暴露出產(chǎn)品薄弱環(huán)節(jié)之后，根據(jù)具體情況，立即進(jìn)行必要的改進(jìn)是能夠使產(chǎn)品的可靠性有大幅度的增長，這種方法比較適用于試驗中只出現(xiàn)一種比較普遍和嚴(yán)重問題的情況，針對性較強(qiáng)。
　　第三種方法是“含延緩改進(jìn)的試驗——改進(jìn)——再試驗”模式。

　　該方法是將方法一和方法二結(jié)合起來，通過試驗發(fā)現(xiàn)了產(chǎn)品的問題，有些改進(jìn)在試驗中了產(chǎn)品的問題，有些改進(jìn)在試驗中立即著手進(jìn)行，有些延緩到試驗結(jié)束后再作改進(jìn)。在試驗中，對能及時改進(jìn)的問題，立即采取措施改進(jìn)產(chǎn)品，提高可靠性，在試驗階段結(jié)束后，把延緩的問題至下次試驗開始前進(jìn)行改進(jìn)，然后再進(jìn)行試驗，使產(chǎn)品的可靠性得到較大的增長。這種方法比較適合于試驗中出現(xiàn)幾種問題，并且一些問題能短期容易改進(jìn)的，另一些問題卻需要相當(dāng)一段時間才能改進(jìn)的綜合情況。　 　　

　　對于以上所述的三種方法，電子產(chǎn)品在研制階段中，經(jīng)過系統(tǒng)的試驗，要根據(jù)暴露出的問題作具體分析，靈活應(yīng)用。可靠性試驗中常用的三種方法往往是周而復(fù)始地循環(huán)，并且一個循環(huán)比一個循環(huán)產(chǎn)品的可靠性水平向上增長，另外可靠性試驗除通過系統(tǒng)試驗外，還應(yīng)根據(jù)具體情況通過氣候環(huán)境試驗、機(jī)械環(huán)境試驗和人為正常使用等各方面的試驗來暴露產(chǎn)品生產(chǎn)的薄弱環(huán)節(jié)，進(jìn)行綜合的科學(xué)分析，做相應(yīng)的改進(jìn)，使得電子產(chǎn)品在設(shè)計研制階段對其固有可靠性有進(jìn)一步的提高。
　　結(jié)束語

　　電子產(chǎn)品的可靠性十分重要，是產(chǎn)品質(zhì)量的主要指標(biāo)。我國電子儀器的可靠性試驗遵循的標(biāo)準(zhǔn)是GB11463《電子測量儀器可靠性試驗》，一般產(chǎn)品在鑒定時的可靠性指標(biāo)是300H，如果按常用的定時截尾試驗方案進(jìn)行可靠性考核，總的試驗時間要達(dá)到10000H左右。由于電子產(chǎn)品在設(shè)計研制階段經(jīng)歷了反復(fù)多次的“試驗——分析——改進(jìn)——再試驗”的可靠性增長試驗過程。在這個過程中，由于采取了改進(jìn)設(shè)計及工藝措施等一系列措施來消除失效，使失效的發(fā)生逐漸減少，而可靠性得以增長。

　　我國的一些電子產(chǎn)品的可靠性指標(biāo)比較國際先進(jìn)標(biāo)準(zhǔn)還有差距，因此必須對國內(nèi)外相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行充分研究，真正從產(chǎn)品方案的論證、設(shè)計、生產(chǎn)、試驗和使用全過程中對可靠性水平作出準(zhǔn)確的評價，從而大大提高我國電子產(chǎn)品的可靠性水平，使產(chǎn)品質(zhì)量達(dá)到世界先進(jìn)水平